SOC SOCKET
客制化IC測試架
適用于BGA, QFN, LGA, QFP, SOP等封裝
用于芯片的快速驗證，測試，燒錄，老化
壓蓋式設計供手工或自動(dòng)加載或卸載機構
適用于間距0.4mm-1.27mm產(chǎn)品
探針可更換，維修方便，成本低
客制化IC測試架
適用于BGA, QFN, LGA, QFP, SOP等封裝
用于芯片的快速驗證，測試，燒錄，老化
壓蓋式設計供手工或自動(dòng)加載或卸載機構
適用于間距0.4mm-1.27mm產(chǎn)品
探針可更換，維修方便，成本低
客制化IC測試架
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用于芯片的快速驗證，測試，燒錄，老化
壓蓋式設計供手工或自動(dòng)加載或卸載機構
適用于間距0.4mm-1.27mm產(chǎn)品
探針可更換，維修方便，成本低
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適用于BGA, QFN, LGA, QFP, SOP等封裝
用于芯片的快速驗證，測試，燒錄，老化
壓蓋式設計供手工或自動(dòng)加載或卸載機構
適用于間距0.4mm-1.27mm產(chǎn)品
探針可更換，維修方便，成本低
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適用于BGA, QFN, LGA, QFP, SOP等封裝
用于芯片的快速驗證，測試，燒錄，老化
壓蓋式設計供手工或自動(dòng)加載或卸載機構
適用于間距0.4mm-1.27mm產(chǎn)品
探針可更換，維修方便，成本低
