ATE測試座(轉塔式分選機適用)
用于DFN,SOP,SOT,TO等封裝
用于芯片的快速測試.
適用于機測,轉塔式分選機
鎢鋼測試爪壽命:500W次
測試片壽命:100W次
ATE測試座(自動(dòng)機臺適用)適用于BGA, QFN, DFN, LGA, QFP, SOP等封裝
用于芯片的快速驗證,測試.
壓蓋式設計供手工或自動(dòng)加載或卸載機構
探針可更換,維修方便,成本低
適用于間距0.4mm-1.27mm產(chǎn)品尺寸規格DFN.QFN(1*1-8*8)
機械性能
測試座材料:Peek陶瓷,pps,Torlon4203,PEI.Torlon5530
座頭材料:AL,Cu,POM
探針類(lèi)型:彈簧探針
工作溫度:-40 ~ 140度
探針壽命:30萬(wàn)次
彈簧彈力:20g ~ 30g per Pin
電性能
電流:2A (單PIN支持1A)
電阻:50mΩ
頻寬:> 20GHZ @-1db
ATE測試座(自動(dòng)機臺適用)適用于BGA, QFN, DFN, LGA, QFP, SOP等封裝
用于芯片的快速驗證,測試.
壓蓋式設計供手工或自動(dòng)加載或卸載機構
探針可更換,維修方便,成本低
適用于間距0.4mm-1.27mm產(chǎn)品尺寸規格DFN.QFN(1*1-8*8)
機械性能
測試座材料:Peek陶瓷,pps,Torlon4203,PEI.Torlon5530
座頭材料:AL,Cu,POM
探針類(lèi)型:彈簧探針
工作溫度:-40 ~ 140度
探針壽命:30萬(wàn)次
彈簧彈力:20g ~ 30g per Pin
電性能
電流:2A (單PIN支持1A)
電阻:50mΩ
頻寬:> 20GHZ @-1db